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Ballistische Elektronen Emissions Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-opus-8087

Obernhuber, Sandra (2007) Ballistische Elektronen Emissions Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen. Dissertation, Universität Regensburg.

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Zusammenfassung (Deutsch)

Für die Realisierung von Spintransistoren ist die genaue Kenntnis der Ferromagnet Halbleitergrenzfläche wichtig. Mit Hilfe der Ballistischen Elektronen Emissions Mikroskopie kann eine vergrabene Grenzfläche mit einer Auflösung im Nanometerbereich charakterisiert werden. In dieser Arbeit wurden verschiedene Ferromagnet/GaAs(110) Grenzflächen hinsichtlich ihrer Homogenität untersucht und die ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Englisch)

For current research on spintransistors it is important to know the caracteristics of ferromagnet semiconductor interfaces. The ballistic electron emission microscopy (BEEM) is a method to investigate such a buried interface with nanometer resolution. In this work several Ferromagnet/GaAs(110) interfaces have been analysed concerning their homogeneity and mean local schottkybarrierheights (SBH) ...

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Dokumentenart:Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation)
Datum:14 Juni 2007
Begutachter (Erstgutachter):Prof. Dr. Christian Back
Tag der Prüfung:23 Mai 2007
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Stichwörter / Keywords:Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie , Schottky-Kontakt , Halbleitergrenzfläche , Übergitter , Ferromagnetische Heterostruktur , , Ballistic-Electron-Emission-Microscopy , Schottkybarrier , heterostructure , semiconductor interface
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:27 Okt 2009 12:00
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 11:47
Dokumenten-ID:10564
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