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Ballistische Elektronen Emissions Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen

URN to cite this document: urn:nbn:de:bvb:355-opus-8087

Obernhuber, Sandra (2007) Ballistische Elektronen Emissions Mikroskopie (BEEM) an Ferromagnet-Halbleitergrenzflächen. PhD, Universität Regensburg

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Abstract (German)

Für die Realisierung von Spintransistoren ist die genaue Kenntnis der Ferromagnet Halbleitergrenzfläche wichtig. Mit Hilfe der Ballistischen Elektronen Emissions Mikroskopie kann eine vergrabene Grenzfläche mit einer Auflösung im Nanometerbereich charakterisiert werden. In dieser Arbeit wurden verschiedene Ferromagnet/GaAs(110) Grenzflächen hinsichtlich ihrer Homogenität untersucht und die ...


Translation of the abstract (English)

For current research on spintransistors it is important to know the caracteristics of ferromagnet semiconductor interfaces. The ballistic electron emission microscopy (BEEM) is a method to investigate such a buried interface with nanometer resolution. In this work several Ferromagnet/GaAs(110) interfaces have been analysed concerning their homogeneity and mean local schottkybarrierheights (SBH) ...


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Item Type:Thesis of the University of Regensburg (PhD)
Date:14 June 2007
Referee:Prof. Dr. Christian Back
Date of exam:23 May 2007
Institutions:Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Chair Professor Back > Group Christian Back
Keywords:Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie , Schottky-Kontakt , Halbleitergrenzfläche , Übergitter , Ferromagnetische Heterostruktur , , Ballistic-Electron-Emission-Microscopy , Schottkybarrier , heterostructure , semiconductor interface
Dewey Decimal Classification:500 Science > 530 Physics
Refereed:Yes, this version has been refereed
Created at the University of Regensburg:Yes
Deposited On:27 Oct 2009 12:00
Last Modified:13 Mar 2014 11:47
Item ID:10564
Owner Only: item control page


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