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Influence of short-range ordering on roughness of (AlGa)As interfaces studied with cross-sectional scanning tunneling microscopy

Reusch, T. C. G. und Wenderoth, M. und Heinrich, A. J. und Engel, K. J. und Quaas, N. und Sauthoff, K. und Ulbrich, R. G. und Weber, E. R. und Uchida, K. und Wegscheider, Werner (2000) Influence of short-range ordering on roughness of (AlGa)As interfaces studied with cross-sectional scanning tunneling microscopy. Applied Physics Letters 76 (28), S. 3882-3883.

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Zusammenfassung

Cross-sectional scanning tunneling microscopy was used to identify individual Al atoms on cleaved surfaces of two sets of (AlGa)As heterostructure samples grown with metalorganic vapor-phase epitaxy and molecular-beam epitaxy. We determined the average Al concentration profile perpendicular to the GaAs–(AlGa)As interfaces. Based on former investigations of short-range ordering in (AlGa)As bulk ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:26 Juni 2000
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Themenverbund:Nicht ausgewählt
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.126808DOI
Verwandte URLs:
URLURL Typ
http://link.aip.org/link/?APPLAB/76/3882/1Verlag
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:30 Nov 2009 13:28
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 12:10
Dokumenten-ID:11051
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