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Scanning gate measurements on a quantum wire

Ihn, Thomas und Rychen, J. und Cilento, T. und Held, R. und Ensslin, Klaus und Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2002) Scanning gate measurements on a quantum wire. Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures 12 (1-4), S. 691-694.

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Zusammenfassung

We have performed measurements on a semiconductor quantum wire in which we induce a local potential perturbation with the metallic tip of a scanning force microscope. Measurement of the sample resistance as a function of tip position results in an electrical map of the wire in real space. We find the fingerprint of potential fluctuations in the wire which appear as local resistance fluctuations ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:Januar 2002
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/S1386-9477(01)00379-4DOI
Klassifikation:
NotationArt
73.40.GkPACS
Stichwörter / Keywords:Scanning probe techniques; Quantum wires; Phase coherence effects
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:07 Dez 2009 13:09
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 12:15
Dokumenten-ID:11306
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