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Scanning a metallic tip close to a quantum point contact

Pioda, A. und Brunner, D. und Kicin, S. und Ihn, Thomas und Sigrist, Martin und Fuhrer, A. und Ensslin, Klaus und Reinwald, Matthias und Wegscheider, Werner (2006) Scanning a metallic tip close to a quantum point contact. Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures 32 (1-2), S. 167-170.

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Zusammenfassung

Low-temperature transport experiments on a quantum point contact under the influence of a scanning gate are reported. The scanning gate is the metallic tip of a scanning force microscope operating at a temperature of 300 mK. In particular, the influence of the scanning tip on conductance resonances observed in the gate-characteristics of the point contact is studied. The strongest conductance ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:Mai 2006
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/j.physe.2005.12.124DOI
Klassifikation:
NotationArt
07.20.Mc; 73.63.−bPACS
Stichwörter / Keywords:Scanning probe microscopy; Scanning-gate microscopy; Quantum point contact
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:25 Jan 2010 13:14
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 12:30
Dokumenten-ID:12190
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