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Bimodal statistic on a single dot device

Fricke, C. und Hohls, F. und Wegscheider, Werner und Haug, Rolf J. (2008) Bimodal statistic on a single dot device. Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures 40 (5), S. 1055-1058.

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Zusammenfassung

We explore the full counting statistics of single electron tunneling through a quantum dot using a quantum point contact as non-invasive high bandwidth charge detector. The distribution of counted tunneling events is measured as a function of gate and source–drain-voltage for several consecutive electron numbers on the quantum dot. For bias voltages at which excited states become accessible we ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:März 2008
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/j.physe.2007.10.063DOI
Klassifikation:
NotationArt
72.70.+m; 73.23.Hk; 73.63.KvPACS
Stichwörter / Keywords:Quantum dot; Full counting statistics; Shot noise; Correlation effects
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:01 Feb 2010 13:03
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 12:44
Dokumenten-ID:12633
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