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High-Resolution Imaging of Twin Intersections in Si/Ge Superlattices on Ge(001) Substrates

Wegscheider, Werner und Eberl, Karl und Abstreiter, Gerhard und Cerva, Hans und Oppolzer, H. (1991) High-Resolution Imaging of Twin Intersections in Si/Ge Superlattices on Ge(001) Substrates. In: Cullis, Anthony G., (ed.) Microscopy of semiconducting materials 1991. Conference series, 117. Institute of Physics, Bristol, S. 21. ISBN 0-85498-406-2.

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Dokumentenart:Buchkapitel
Datum:1991
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:08 Feb 2010 13:49
Zuletzt geändert:08 Feb 2010 13:49
Dokumenten-ID:12764
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