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Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography

Heinzel, Thomas und Lüscher, Silvia und Held, Ryan und Fuhrer, Andreas und Ensslin, Klaus und Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2000) Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography. In: 11th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics, 21.-25. Februar 2000, Mauterndorf, Österreich.

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Dokumentenart:Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Nicht ausgewählt)
Datum:2000
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:02 Mrz 2010 12:56
Zuletzt geändert:02 Mrz 2010 12:56
Dokumenten-ID:13046
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