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A Phase Field Model for the Electromigration of Intergranular Voids

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-139160
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.13916
Barrett, John W. ; Garcke, Harald ; Nürnberg, Robert
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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 01 Apr 2010 09:01


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