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Structural and magnetic properties of NiMnSb/InGaAs/InP(001)

Koveshnikov, A und Woltersdorf, Georg und Liu, JQ und Kardasz, B und Mosendz, O und Heinrich, B und Kavanagh, KL und Bach, P und Bader, AS und Schumacher, C und Ruster, C und Gould, C und Schmidt, G und Molenkamp, LW und Kumpf, C (2005) Structural and magnetic properties of NiMnSb/InGaAs/InP(001). Journal of Applied Physics 97 (7), 073906.

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Zusammenfassung

The structural and magnetic properties of NiMnSb films, 5-120 nm thick, grown on InGaAs/InP(001) substrates by molecular-beam epitaxy, were studied by x-ray diffraction, transmission electron microscopy (TEM), and ferromagnetic resonance (FMR) techniques. X-ray diffraction and TEM studies show that the NiMnSb films had the expected half-Heusler structure, and films up to 120 nm ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:April 2005
Institutionen:Nicht ausgewählt
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.1873036DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:27 Mai 2010 07:34
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 13:26
Dokumenten-ID:14941
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