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Imaging ellipsometry of graphene

Wurstbauer, Ulrich und Röling, Christian und Wurstbauer, Ursula und Wegscheider, Werner und Vaupel, Matthias und Thiesen, Peter H. und Weiss, Dieter (2010) Imaging ellipsometry of graphene. Applied Physics Letters 97, S. 231901.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aip.org/link/APPLAB/v97/i23/p231901/s1


Zusammenfassung

Imaging ellipsometry studies of graphene on SiO2/Si and crystalline GaAs are presented. We demonstrate that imaging ellipsometry is a powerful tool to detect and characterize graphene on any flat substrate. Variable angle spectroscopic ellipsometry is used to explore the dispersion of the optical constants of graphene in the visible range with high lateral resolution. In this way, the influence of the substrate on graphene’s optical properties can be investigated.


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Dokumentenart:Artikel
Datum:6 Dezember 2010
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Dieter Weiss
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Werner Wegscheider
Projekte:GRK 638 Nonlinearity and nonequilibrium in condensed matter, GRK 1570, Elektronische Eigenschaften von Nanostrukturen auf Kohlenstoff-Basis
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.3524226DOI
Klassifikation:
NotationArt
78.67.WjPACS
78.20.CiPACS
Stichwörter / Keywords:ellipsometry, graphene, optical constants, optical dispersion
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:15 Dez 2010 12:35
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 14:23
Dokumenten-ID:18792
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