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Imaging ellipsometry of graphene

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-187921
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.18792
Wurstbauer, Ulrich ; Röling, Christian ; Wurstbauer, Ursula ; Wegscheider, Werner ; Vaupel, Matthias ; Thiesen, Peter H. ; Weiss, Dieter
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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 15 Dez 2010 12:35


Zusammenfassung

Imaging ellipsometry studies of graphene on SiO2/Si and crystalline GaAs are presented. We demonstrate that imaging ellipsometry is a powerful tool to detect and characterize graphene on any flat substrate. Variable angle spectroscopic ellipsometry is used to explore the dispersion of the optical constants of graphene in the visible range with high lateral resolution. In this way, the influence of the substrate on graphene’s optical properties can be investigated.


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