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Magnetization profile at the Fe/GaAs(001)-4x6 interface

Giovanelli, Luca und Tian, C. und Gastelois, P. und Panaccione, G. und Fabrizioli, M. und Hochstrasser, M. und Galaktionov, M. und Back, Christian und Rossi, G. (2004) Magnetization profile at the Fe/GaAs(001)-4x6 interface. Physica B Condensed Matter 345 (1-4), S. 177-180.

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Zusammenfassung

The magnetization of a thin Fe film epitaxially grown on GaAs(0 0 1)-4×6 was studied at different depths from the metal/semiconductor interface using a single layer of Fe0.5Co0.5 as a marker layer through a double-wedge Fe film. By measuring the X-ray magnetic circular dichroism spectroscopy at the L2,3 of Co, the magnetic response of the film could be sensed at different distances from the ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:März 2004
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/j.physb.2003.11.048DOI
Stichwörter / Keywords:Fe; Co; GaAs; X-ray magnetic circular dichroism; Spin injection
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:20 Mrz 2007
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 10:09
Dokumenten-ID:1915
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