Startseite UR

Scanning Ion Conductance Microscopy with distance-modulated shear force control.

Böcker, M. und Anczykowski, B. und Wegener, Joachim und Schäffer, T. (2007) Scanning Ion Conductance Microscopy with distance-modulated shear force control. Nanotechnology 18, S. 145505.

Im Publikationsserver gibt es leider keinen Volltext zu diesem Eintrag.


Bibliographische Daten exportieren



Dokumentenart:Artikel
Datum:2007
Institutionen:Chemie und Pharmazie > Institut für Analytische Chemie, Chemo- und Biosensorik > Bioanalytik und Biosensorik (Prof. Joachim Wegener)
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Nein
Eingebracht am:24 Mrz 2011 07:26
Zuletzt geändert:24 Mrz 2011 07:26
Dokumenten-ID:20231
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de

Dissertationen: dissertationen@ur.de

Forschungsdaten: daten@ur.de

Ansprechpartner