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Analysis of electron diffraction patterns from carbon nanotubes with image processing to determine structural parameters

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-227890

Senninger, Dominik (2011) Analysis of electron diffraction patterns from carbon nanotubes with image processing to determine structural parameters. Dissertation, Universität Regensburg.

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Zusammenfassung (Englisch)

In this PhD-thesis a method was developed, which offers the possibility to analyze electron diffraction patterns from carbon nanotubes automatically with a computer program to determine the chiral indices n and m. Diffraction patterns of single-walled nanotubes can be evaluated as well as images of multi-walled tubes or bundles of tubes. To be able to verify the results of the algorithm, a ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)

Im Rahmen dieser Dissertation wurde eine Methode entwickelt, die die Möglichkeit bietet, Elektronenbeugungsaufnahmen von Kohlenstoffnanoröhrchen mit einem Algorithmus automatisch auszuwerten, um die chiralen Indizes n und m zu bestimmen. Sowohl Beugungsbilder von einwandigen Nanoröhrchen als auch Bilder von mehrwandigen Röhrchen und Bündeln können ausgewertet werden. Um die Ergebnisse des ...

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Dokumentenart:Hochschulschrift der Universität Regensburg (Dissertation)
Datum:6 Dezember 2011
Begutachter (Erstgutachter):Prof. Dr. Elmar W. Lang und Prof. Dr. Christoph Strunk
Tag der Prüfung:7 November 2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Christoph Strunk
Biologie und Vorklinische Medizin > Institut für Biophysik und physikalische Biochemie > Prof. Dr. Elmar Lang
Themenverbund:Nicht ausgewählt
Stichwörter / Keywords:Carbon nanotubes Electron diffraction Image Processing
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:06 Dez 2011 07:30
Zuletzt geändert:13 Mrz 2014 18:12
Dokumenten-ID:22789
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