Startseite UR

Atomic force microscopy at ambient and liquid conditions with stiff sensors and small amplitudes

Wutscher, Elisabeth und Giessibl, Franz J. (2011) Atomic force microscopy at ambient and liquid conditions with stiff sensors and small amplitudes. Review of Scientific Instruments 82, 093703.

[img]
Vorschau
Lizenz: Allianz- bzw. Nationallizenz
PDF - Veröffentlichte Version
Download (4MB)

Zum Artikel beim Verlag (über DOI)

Andere URL zum Volltext: http://link.aip.org/link/?RSI/82/093703/1


Zusammenfassung

We report on atomic force microscopy (AFM) in ambient and liquid environments with the qPlus sensor, a force sensor based on a quartz tuning fork with an all-electrical deflection measurement scheme. Small amplitudes, stiff sensors with bulk diamond tips and high Q values in air and liquid allow to obtain high resolution images. The noise sources in air and liquid are analyzed and compared for ...

plus


Bibliographische Daten exportieren



Dokumentenart:Artikel
Datum:2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.3633950DOI
Klassifikation:
NotationArt
07.79.LhPACS
07.07.Df PACS
Stichwörter / Keywords:atomic force microscopy; calcium compounds; diamond; force sensors; graphene; noise; Q-factor; quartz; vibrations
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:12 Dez 2011 08:26
Zuletzt geändert:27 Okt 2016 08:23
Dokumenten-ID:22922
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

Downloads

Downloads im Monat während des letzten Jahres

  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de

Dissertationen: dissertationen@ur.de

Forschungsdaten: daten@ur.de

Ansprechpartner