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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-229222
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.22922
Zusammenfassung
We report on atomic force microscopy (AFM) in ambient and liquid environments with the qPlus sensor, a force sensor based on a quartz tuning fork with an all-electrical deflection measurement scheme. Small amplitudes, stiff sensors with bulk diamond tips and high Q values in air and liquid allow to obtain high resolution images. The noise sources in air and liquid are analyzed and compared for ...
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