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Charakterisierung tiefer Störstellen in Halbleitern durch Tunnel-ionisation in Terahertzfeldern

Ziemann, E. and Ganichev, Sergey and Yassievich, Irina and Prettl, Wilhelm (1998) Charakterisierung tiefer Störstellen in Halbleitern durch Tunnel-ionisation in Terahertzfeldern. In: Fruehjahrstagung der Deutschen-Physikalischen-Gesellschaft, 1998, Regensburg.

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Abstract

Die phononenunterstützte Tunnelionisation und andere Feldeffekte wie direktes Tunneln und der Poole-Frenkel-Effekt im elektrischen Feld der Strahlung leistungsstarker FIR-Laser bieten neue Möglichkeiten zur Charakterisierung tiefer Störstellen in Halbleitern. Durch gepulste Bestrahlung mit einem optisch gepumpten FIR-Laser lassen sich homogene elektrische Terahertzfelder hoher Intensität ...

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Item Type:Conference or Workshop Item (Poster)
Date:1998
Institutions:Physics > Institute of Experimental and Applied Physics > Professor Ganichev > Group Sergey Ganichev
Subjects:500 Science > 530 Physics
Status:Published
Refereed:Yes, this version has been refereed
Created at the University of Regensburg:Yes
Owner: Christoph Drexler
Deposited On:05 Oct 2007
Last Modified:05 Aug 2009 13:39
Item ID:2445
Owner Only: item control page
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