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Comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length-extensional resonators

Giessibl, Franz J. und Pielmeier, Florian und Eguchi, Toyoaki und An, Toshu und Hasegawa, Yukio (2011) Comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length-extensional resonators. Physical Review B (PRB) 84 (12), 125409-1-125409-15.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.84.125409


Zusammenfassung

The force sensor is key to the performance of atomic force microscopy (AFM). Nowadays, most atomic force microscopes use micromachined force sensors made from silicon, but piezoelectric quartz sensors are being applied at an increasing rate, mainly in vacuum. These self-sensing force sensors allow a relatively easy upgrade of a scanning tunneling microscope to a combined scanning tunneling/atomic ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:6 September 2011
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:SFB 689: Spinphänomene in reduzierten Dimensionen
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevB.84.125409DOI
Klassifikation:
NotationArt
68.37.PsPACS
07.79.LhPACS
34.20.-bPACS
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:05 Jul 2012 06:10
Zuletzt geändert:12 Mai 2016 12:33
Dokumenten-ID:25268
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