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Physical interpretation of frequency-modulation atomic force microscopy

Giessibl, Franz J. und Bielefeldt, Hartmut (2000) Physical interpretation of frequency-modulation atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 61 (15), S. 9968-9971.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevB.61.9968


Zusammenfassung

Frequency modulation atomic force microscopy is a method for imaging the surface of metals, semiconductors and insulators in ultrahigh vacuum with true atomic resolution. The imaging signal in this technique is the frequency shift Δf of an oscillating cantilever with eigenfrequency f0, spring constant k and amplitude A, which is subject to tip-sample forces Fts. Here, we present analytical ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:15 April 2000
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/PhysRevB.61.9968DOI
Klassifikation:
NotationArt
Nicht ausgewählt
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 13:48
Zuletzt geändert:20 Mai 2016 11:15
Dokumenten-ID:25271
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