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Exploring the Nanoworld with Atomic Force Microscopy

Giessibl, Franz J. und Quate, Calvin F. (2006) Exploring the Nanoworld with Atomic Force Microscopy. Physics today 59 (12), S. 44-50.

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Zusammenfassung

Over its 20‐year history, the atomic force microscope has gradually evolved into an instrument whose spatial resolution is now fine enough to image subatomic features on the scale of picometers.


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Dokumentenart:Artikel
Datum:Dezember 2006
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.2435681DOI
Klassifikation:
NotationArt
68.37.PsPACS
07.79.-vPACS
34.20.-bPACS
Stichwörter / Keywords:
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Zum Teil
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:00
Zuletzt geändert:17 Mai 2016 11:20
Dokumenten-ID:25317
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