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Higher-harmonic atomic force microscopy

Giessibl, Franz J. (2006) Higher-harmonic atomic force microscopy. Surface and Interface Analysis 38 (12-13), S. 1696-1701.

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Zusammenfassung

To maximize the spatial resolution of atomic force microscopy (AFM), it is helpful to isolate the spurious short-range components from the plethora of force contributions acting between AFM tips and samples. It is shown theoretically and experimentally that higher-harmonic AFM, a technique that utilizes the anharmonic deflection contributions that arise when a cantilever oscillates in the highly ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:29 November 2006
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1002/sia.2392DOI
Stichwörter / Keywords:atomic force microscopy; sub–Angstrom spatial resolution; higher harmonics; qPlus sensor
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:04
Zuletzt geändert:06 Mai 2016 09:14
Dokumenten-ID:25319
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