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AFM's path to atomic resolution

Giessibl, Franz J. (2005) AFM's path to atomic resolution. Materials Today 8 (5), S. 32-41.

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Zusammenfassung

We review progress in improving the spatial resolution of atomic force microscopy (AFM) under vacuum. After an introduction to the basic imaging principle and a conceptual comparison to scanning tunneling microscopy (STM), we outline the main challenges of AFM as well as the solutions that have evolved in the first 20 years of its existence. Some crucial steps along AFM's path toward higher resolution are discussed, followed by an outlook on current and future applications.


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Dokumentenart:Artikel
Datum:Mai 2005
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/S1369-7021(05)00844-8DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:06
Zuletzt geändert:13 Mai 2016 06:21
Dokumenten-ID:25320
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