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A direct method to calculate tip–sample forces from frequency shifts in frequency-modulation atomic force microscopy

Giessibl, Franz J. (2001) A direct method to calculate tip–sample forces from frequency shifts in frequency-modulation atomic force microscopy. Applied Physics Letters 78 (1), S. 123-125.

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Andere URL zum Volltext: http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/78/1/10.1063/1.1335546


Zusammenfassung

Frequency-modulation atomic force microscopy (FMAFM) has proven to be a powerful method for imaging surfaces with true atomic resolution. However, the tip–sample forces are not directly accessible by FMAFM. Here, an algorithm to recover the tip–sample forces from the frequency shift curve is introduced and demonstrated with experimental data. Also, an intuititive connection between frequency ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:1 Januar 2001
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.1335546DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:17
Zuletzt geändert:06 Mai 2016 10:48
Dokumenten-ID:25325
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