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Atomic resolution on Si(111)-(7×7) by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork

Giessibl, Franz J. (2000) Atomic resolution on Si(111)-(7×7) by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork. Applied Physics Letters 76 (11), S. 1470-1472.

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Zusammenfassung

Atomic resolution by noncontact atomic force microscopy with a self-sensing piezoelectric force sensor is presented. The sensor has a stiffness of 1800 N/m and is operated with sub-nanometer amplitudes, allowing atomic resolution with relatively bluntly etched tungsten tips. Sensitivity and noise are discussed.


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Dokumentenart:Artikel
Datum:13 März 2000
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.126067DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:18
Zuletzt geändert:17 Mai 2016 14:03
Dokumenten-ID:25326
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