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High-speed force sensor for force microscopy and profilometry utilizing a quartz tuning fork

Giessibl, Franz J. (1998) High-speed force sensor for force microscopy and profilometry utilizing a quartz tuning fork. Applied Physics Letters 73 (26), S. 3956-3958.

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Zusammenfassung

Force sensors are key elements of atomic force microscopes and surface profilometers. Sensors with an integrated deflection meter are particularly desirable. Here, quartz tuning forks as used in watches are utilized as force sensors. A novel technique is employed which simplifies the interpretation of the data and increases the imaging speed by at least one order of magnitude compared to previous ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:28 Dezember 1998
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.122948DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:20
Zuletzt geändert:19 Mai 2016 13:59
Dokumenten-ID:25327
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