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Self-oscillating mode for frequency modulation noncontact atomic force microscopy

Giessibl, Franz J. und Tortonese, Marco (1997) Self-oscillating mode for frequency modulation noncontact atomic force microscopy. Applied Physics Letters 70 (19), S. 2529-2531.

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Zusammenfassung

Frequency modulation atomic force microscopy (FM-AFM) has made imaging of surfaces in ultrahigh vacuum with atomic resolution possible. Here, we demonstrate a new approach which simplifies the implementation of FM-AFM considerably and enhances force sensitivity by directly exciting the cantilever with the thermal effects involved in the deflection measurement process. This approach reduces the ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:12 Mai 1997
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.118910DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:21
Zuletzt geändert:12 Mai 2016 09:50
Dokumenten-ID:25328
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