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Principle of NC-AFM

Giessibl, Franz J. (2002) 2. Principle of NC-AFM. In: Morita, Seizo und Wiesendanger, Roland und Meyer, Ernst, (eds.) Noncontact atomic force microscopy. Band 1. Nanoscience and technology (2). Springer, Berlin, S. 11-46. ISBN 3-540-43117-9 .

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Dokumentenart:Buchkapitel
Datum:2002
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Stichwörter / Keywords:
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:30
Zuletzt geändert:06 Mai 2016 08:12
Dokumenten-ID:25332
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