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Imaging silicon by atomic force microscopy with crystallographically oriented tips

Giessibl, Franz J. und Hembacher, Stefan und Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen (2001) Imaging silicon by atomic force microscopy with crystallographically oriented tips. Applied Physics A: Materials Science & Processing 72 (Suppl1), S. 15-17.

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Zusammenfassung

The images obtained by atomic force microscopy (AFM) originate from a convolution of atomic tip and sample states. Since the vertical resolution of AFM is approaching the picometer level, the atomic and subatomic structure of the tip is becoming increasingly important. Here, we demonstrate the preparation of crystallographically oriented AFM tips by breaking a silicon wafer along its preferential ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:27 März 2001
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1007/s003390100627DOI
Klassifikation:
NotationArt
07.79.LhPACS
34.20.CfPACS
68.37.EPACS
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:33
Zuletzt geändert:07 Jun 2016 11:52
Dokumenten-ID:25334
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