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Force Microscopy in Vacuum with Atomic Resolution

Giessibl, Franz J. (1999) Force Microscopy in Vacuum with Atomic Resolution. In: Kuk, Y. und Lyo, I.W. und Jeon, D. und Park, S. I., (eds.) Preliminary proceedings of STM : 10th Int'l Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Proximal Probe Microscopy ; 19 - 23 July, 1999, Seoul, Korea. , S. 19-20.

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Dokumentenart:Buchkapitel
Datum:1999
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Stichwörter / Keywords:
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:34
Zuletzt geändert:06 Mai 2016 08:12
Dokumenten-ID:25335
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