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Advances in Atomic Force Microscopy

Giessibl, Franz J. (2003) Advances in Atomic Force Microscopy. Reviews of Modern Physics (RMP) 75 (3), S. 949-983.

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Andere URL zum Volltext: http://link.aps.org/doi/10.1103/RevModPhys.75.949


Zusammenfassung

This article reviews the progress of atomic force microscopy in ultrahigh vacuum, starting with its invention and covering most of the recent developments. Today, dynamic force microscopy allows us to image surfaces of conductors and insulators in vacuum with atomic resolution. The most widely used technique for atomic-resolution force microscopy in vacuum is frequency-modulation atomic force ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:29 September 2003
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1103/RevModPhys.75.949DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:13 Jul 2012 08:15
Zuletzt geändert:12 Mai 2016 12:46
Dokumenten-ID:25336
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