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Atomic Force Microscopy on Its Way to Adolescence

Giessibl, Franz J. (2003) Atomic Force Microscopy on Its Way to Adolescence. AIP Conference Proceedings 696 (1), S. 60-67.

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Zusammenfassung

When the atomic force microscope (AFM) was introduced in 1986, its potential to resolve surfaces with true atomic resolution was already proposed. However, substantial problems had to be overcome before atomic resolution became possible by AFM. Today, true atomic resolution by AFM is standard practice. This article discusses the influence of the cantilever stiffness and — amplitude on noise and ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:18 Dezember 2003
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.1639678DOI
Stichwörter / Keywords:
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:13 Jul 2012 08:16
Zuletzt geändert:12 Mai 2016 12:39
Dokumenten-ID:25337
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