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Imaging of atomic orbitals with the Atomic Force Microscope — experiments and simulations

Giessibl, Franz J. und Bielefeldt, Hartmut und Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen (2001) Imaging of atomic orbitals with the Atomic Force Microscope — experiments and simulations. Annalen der Physik 10 (11-12), S. 887-910.

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Zusammenfassung

Atomic force microscopy (AFM) is a mechanical profiling technique that allows to image surfaces with atomic resolution. Recent progress in reducing the noise of this technique has led to a resolution level where previously undetectable symmetries of the images of single atoms are observed. These symmetries are related to the nature of the interatomic forces. The Si(111)-(7 × 7) surface is studied ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:10 Oktober 2001
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1002/1521-3889(200111)10:11/12<887::AID-ANDP887>3.0.CO;2-BDOI
Klassifikation:
NotationArt
68.37.PsPACS
34.20.CfPACS
68.35.GyPACS
68.35.JaPACS
Stichwörter / Keywords:atomic force microscope; atomic orbitals
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:13 Jul 2012 08:03
Zuletzt geändert:17 Mai 2016 13:20
Dokumenten-ID:25341
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