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Calculation of the optimal imaging parameters for frequency modulation atomic force microscopy

Giessibl, Franz J. und Bielefeldt, Hartmut und Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen (1999) Calculation of the optimal imaging parameters for frequency modulation atomic force microscopy. Applied Surface Science 140 (3-4), S. 352-357.

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Zusammenfassung

True atomic resolution of conductors and insulators is now routinely obtained in vacuum by frequency modulation atomic force microscopy. So far, the imaging parameters (i.e., eigenfrequency, stiffness and oscillation amplitude of the cantilever, frequency shift) which result in optimal spatial resolution for a given cantilever and sample have been found empirically. Here, we calculate the optimal ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:Februar 1999
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/S0169-4332(98)00553-4DOI
Klassifikation:
NotationArt
07.79 LhPACS
61.16 ChPACS
87.64 DzPACS
34.20 CfPACS
Stichwörter / Keywords:Atomic force microscopy; Frequency modulation atomic force microscopy; Dynamic force microscopy; Atomic resolution; Tip–sample interaction; Dissipation; Thermal noise; APN
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:13 Jul 2012 08:01
Zuletzt geändert:19 Mai 2016 13:43
Dokumenten-ID:25342
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