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A simplified but intuitive analytical model for intermittent-contact-mode force microscopy based on Hertzian mechanics

Bielefeldt, Hartmut und Giessibl, Franz J. (1999) A simplified but intuitive analytical model for intermittent-contact-mode force microscopy based on Hertzian mechanics. Surface Science 440 (3), L863-L867.

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Zusammenfassung

The forces acting on the substrate in intermittent-contact-mode (IC mode, tapping mode) atomic force microscopy are not accessible to a direct measurement. For an estimation of these forces, a simple analytical model is developed by considering only the shift of the cantilever resonance frequency caused by Hertzian (contact) forces. Based on the relationship between frequency shift and tip–sample ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:10 Oktober 1999
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1016/S0039-6028(99)00861-4DOI
Stichwörter / Keywords:Atomic force microscopy; Intermittent contact; Tapping mode
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Unbekannt / Keine Angabe
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:13 Jul 2012 07:59
Zuletzt geändert:06 Mai 2016 10:27
Dokumenten-ID:25344
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