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In situ measurements of magnetoresistive effects in ferromagnetic microstructures by Lorentz microscopy

Haug, Thomas und Vogl, Anton und Zweck, Josef und Back, Christian (2006) In situ measurements of magnetoresistive effects in ferromagnetic microstructures by Lorentz microscopy. Applied Physics Letters 88, 082506.

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Andere URL zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1063/1.2179367


Zusammenfassung

We report on a four point resistance measurement inside a transmission electron microscope and during the imaging process which uses a special developed specimen holder. Lorentz microscopy allows us to observe the micromagnetic configuration of the ferromagnetic samples. Two different imaging techniques, Fresnel imaging and differential phase contrast, are used. The latter one allows lateral ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2006
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Josef Zweck
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.2179367DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:15 Nov 2007
Zuletzt geändert:26 Okt 2011 07:14
Dokumenten-ID:2551
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