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Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe/GaAs(001)-(4x6)

Giovanelli, L. und Panaccione, G. und Rossi, G. und Fabrizioli, M. und Tian, C. und Gastelois, P. und Fujii, J. und Back, Christian (2005) Interface magnetization profiling by x-ray magnetometry of marker impurities on Fe/GaAs(001)-(4x6). Applied Physics Letters 87, 042506.

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2005
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Back > Arbeitsgruppe Christian Back
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:15 Nov 2007
Zuletzt geändert:14 Jul 2010 08:26
Dokumenten-ID:2552
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