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Influence of ridge geometry on lateral mode stability of (In/Al)GaN laser diodes

Schwarz, Uli und Pindl, M. und Sturm, Evi und Furitsch, M. und Leber, A. und Miller, S. und Lell, A. und Härle, V. (2005) Influence of ridge geometry on lateral mode stability of (In/Al)GaN laser diodes. phys. stat. sol. (a) 202, S. 261.

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2005
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:15 Nov 2007
Zuletzt geändert:05 Aug 2009 13:40
Dokumenten-ID:2593
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