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Facet degradation of (Al,In)GaN laser diodes

Schoedl, T. und Schwarz, Uli und Miller, S. und Leber, A. und Furitsch, M. und Lell, A. und Härle, V. (2004) Facet degradation of (Al,In)GaN laser diodes. phys. stat. sol. (a) 201, S. 2635.

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2004
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:15 Nov 2007
Zuletzt geändert:05 Aug 2009 13:40
Dokumenten-ID:2602
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