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Microscopic mapping of strain relaxation in uncoalesced pendeoepitaxial GaN on SiC

Schwarz, Uli und Schuck, P. und Mason, M. und Grober, R. und Roskowsky, A. und Einfeldt, S. und Davis, R. (2003) Microscopic mapping of strain relaxation in uncoalesced pendeoepitaxial GaN on SiC. Physical Review B 67, S. 45321.

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2003
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:15 Nov 2007
Zuletzt geändert:05 Aug 2009 13:40
Dokumenten-ID:2607
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