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Degradation Analysis of InGaN Laser Diodes

Kümmler, V. und Brüderl, G. und Bader, S. und Miller, S. und Weimar, A. und Lell, A. und Härle, V. und Schwarz, Uli und Gmeinwieser, N. und Wegscheider, Werner (2002) Degradation Analysis of InGaN Laser Diodes. phys. stat. sol. (a) 194, S. 419.

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2002
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Entpflichtete oder im Ruhestand befindliche Professoren > Arbeitsgruppe Ulrich Schwarz
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:15 Nov 2007
Zuletzt geändert:09 Dez 2009 04:04
Dokumenten-ID:2610
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