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Raman spectroscopy of the interlayer shear mode in few-layer MoS2 flakes

Plechinger, Gerd und Heydrich, Stefanie und Eroms, Jonathan und Weiss, Dieter und Schüller, Christian und Korn, Tobias (2012) Raman spectroscopy of the interlayer shear mode in few-layer MoS2 flakes. Applied Physics Letters 101, S. 101906.

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Zusammenfassung

Single- and few-layer MoS2 has recently gained attention as an interesting material system for opto-electronics. Here, we report on scanning Raman measurements on few-layer MoS2 flakes prepared by exfoliation. We observe a Raman mode corresponding to a rigid shearing oscillation of adjacent layers. This mode appears at very low Raman shifts between 20 and 30 cm−1. Its position strongly depends on ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:5 September 2012
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Lupton > Arbeitsgruppe Christian Schüller
Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Dieter Weiss
Projekte:SFB 689: Spinphänomene in reduzierten Dimensionen
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.4751266 Nicht ausgewählt
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:23 Okt 2012 06:37
Zuletzt geändert:24 Okt 2016 11:53
Dokumenten-ID:26458
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