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Atomic force microscopy in the picometer regime - resolving spins and non-trivial surface terminations

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-307820
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.30782
Pielmeier, Florian
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 29 Sep 2014 15:47


Zusammenfassung (Englisch)

Atomic Force MIcrosocpy (AFM) offers the unique possiblity to study conductive as well as insulating surfaces at the atomic scale. While achieving atomic or sub-molecular resolution with low temperature AFM is well established nowadays, the resolution of subatomic features and magnetic exchange interactions remains a challenge. The first part of this work deals with the characterization and ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)

Die Rasterkraftmikroskopie (RKM) bietet die einzigartige Möglichkeit leitfähige wie auch isolierende Oberflächen auf atomarer Skala zu untersuchen. Das Erreichen von atomaren und submolekularer Auflösung mittels Tieftemperatur-RKM ist zwischenzeitlich kein Problem mehr, jedoch stellt die Auflösung subatomarer Strukturen und von magnetischen Austauschkräften nach wie vor eine Herausforderung dar. ...

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