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Theory of scanning gate microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-310727
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.31072
Gorini, Cosimo ; Jalabert, Rodolfo A. ; Szewc, Wojciech ; Tomsovic, Steven ; Weinmann, Dietmar
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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 14 Jan 2015 06:35




Zusammenfassung

A systematic theory of the conductance measurements of noninvasive (weak probe) scanning gate microscopy is presented that provides an interpretation of what precisely is being measured. A scattering approach is used to derive explicit expressions for the first- and second-order conductance changes due to the perturbation by the tip potential in terms of the scattering states of the unperturbed ...

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