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Probing Charges on the Atomic Scale by Means of Atomic Force Microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-323498
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.32349
Albrecht, F. ; Repp, Jascha ; Fleischmann, M. ; Scheer, M. ; Ondráček, M. ; Jelínek, P.
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PDF - Veröffentlichte Version
(2MB)
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 20 Aug 2015 10:25



Zusammenfassung

Kelvin probe force spectroscopy was used to characterize the charge distribution of individual molecules with polar bonds. Whereas this technique represents the charge distribution with moderate resolution for large tip-molecule separations, it fails for short distances. Here, we introduce a novel local force spectroscopy technique which allows one to better disentangle electrostatic from other ...

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