Influence of atomic tip structure on the intensity of inelastic tunneling spectroscopy data analyzed by combined scanning tunneling spectroscopy, force microscopy, and density functional theory

URN zum Zitieren dieses Dokuments:: urn:nbn:de:bvb:355-epub-337993
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:: 10.5283/epub.33799

Okobayashi, Norio ; Gustafsson, Alexander ; Peronio, Angelo

; Paulsson, Magnus ; Arai, Toyoko

; Giessibl, Franz J.

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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 27 Mai 2016 05:37

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Achieving a high intensity in inelastic scanning tunneling spectroscopy (IETS) is important for precise measurements. The intensity of the IETS signal can vary by up to a factor of 3 for various tips without an apparent reason accessible by scanning tunneling microscopy (STM) alone. Here, we show that combining STM and IETS with atomic force microscopy enables carbon monoxide front-atom ...

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