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Scanning Hall Probe Microscopy with Shear Force Distance Control

Schweinböck, T und Weiss, Dieter und Lipinski, M und Eberl, K (2000) Scanning Hall Probe Microscopy with Shear Force Distance Control. Journal of Applied Physics 87, S. 6496.

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Zusammenfassung

We describe a new type of scanning Hall probe microscope operating at room temperature for quantitative and noninvasive measurements of magnetic stray fields. The probe-sample distance is controlled by piezoelectrical detection of the shear forces acting on an oscillating cantilever. The Hall probes are manufactured from prepatterned GaAs wafers overgrown with a GaAs/AlGaAs ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:2000
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Weiss > Arbeitsgruppe Dieter Weiss
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:25 Mai 2009 13:20
Zuletzt geändert:05 Aug 2009 13:57
Dokumenten-ID:7909
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