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Böcker, M., Anczykowski, B., Wegener, Joachim und Schäffer, T. (2007) Scanning Ion Conductance Microscopy with distance-modulated shear force control. Nanotechnology 18, S. 145505. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Tue Dec 6 03:49:45 2016 CET.
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