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Publikationen von Bielefeldt, Hartmut
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Anzahl der Einträge: 6.
Giessibl, Franz J., Bielefeldt, Hartmut, Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen
(2001)
Imaging of atomic orbitals with the Atomic Force Microscope — experiments and simulations.
Annalen der Physik 10 (11-12), S. 887-910.
Giessibl, Franz J., Hembacher, Stefan, Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen
(2001)
Imaging silicon by atomic force microscopy with crystallographically oriented tips.
Applied Physics A: Materials Science & Processing 72 (Suppl1), S. 15-17.
Giessibl, Franz J., Hembacher, Stefan, Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen
(2000)
Subatomic Features on the Silicon (111)-(7×7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy.
Science 289 (5478), S. 422-425.
Giessibl, Franz J. und Bielefeldt, Hartmut
(2000)
Physical interpretation of frequency-modulation atomic force microscopy.
Physical Review B (PRB) 61 (15), S. 9968-9971.
Bielefeldt, Hartmut und Giessibl, Franz J.
(1999)
A simplified but intuitive analytical model for intermittent-contact-mode force microscopy based on Hertzian mechanics.
Surface Science 440 (3), L863-L867.
Giessibl, Franz J., Bielefeldt, Hartmut, Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen
(1999)
Calculation of the optimal imaging parameters for frequency modulation atomic force microscopy.
Applied Surface Science 140 (3-4), S. 352-357.
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