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Publikationen von Bielefeldt, Hartmut

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Anzahl der Einträge: 6.

2001

Giessibl, Franz J., Bielefeldt, Hartmut, Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen (2001) Imaging of atomic orbitals with the Atomic Force Microscope — experiments and simulations. Annalen der Physik 10 (11-12), S. 887-910.

Giessibl, Franz J., Hembacher, Stefan, Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen (2001) Imaging silicon by atomic force microscopy with crystallographically oriented tips. Applied Physics A: Materials Science & Processing 72 (Suppl1), S. 15-17.

2000

Giessibl, Franz J., Hembacher, Stefan, Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen (2000) Subatomic Features on the Silicon (111)-(7×7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. Science 289 (5478), S. 422-425.

Giessibl, Franz J. und Bielefeldt, Hartmut (2000) Physical interpretation of frequency-modulation atomic force microscopy. Physical Review B (PRB) 61 (15), S. 9968-9971.

1999

Bielefeldt, Hartmut und Giessibl, Franz J. (1999) A simplified but intuitive analytical model for intermittent-contact-mode force microscopy based on Hertzian mechanics. Surface Science 440 (3), L863-L867.

Giessibl, Franz J., Bielefeldt, Hartmut, Hembacher, Stefan und Mannhart, Jochen (1999) Calculation of the optimal imaging parameters for frequency modulation atomic force microscopy. Applied Surface Science 140 (3-4), S. 352-357.

Diese Liste wurde erzeugt am Sun Dec 4 09:14:44 2016 CET.
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