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Publikationen von Niebauer, Johannes

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2013

Wutscher, Thorsten, Niebauer, Johannes und Giessibl, Franz J. (2013) Scanning probe microscope simulator for the assessment of noise in scanning probe microscopy controllers. Review of Scientific Instruments 84, 073704-1.

Diese Liste wurde erzeugt am Fri Apr 19 23:57:35 2024 CEST.
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