Startseite UR
Publikationen von Brüderl, G.
 | Eine Stufe nach oben |
Anzahl der Einträge: 7.
2006
Gmeinwieser, Nikolaus, Gottfriedsen, P., Schwarz, Ulrich, Wegscheider, Werner, Clos, R., Krtschil, A., Krost, A., Engl, Karl, Weimar, A., Brüderl, G., Lell, Alfred und Härle, Volker
(2006)
Long range strain and electrical potential induced by single edge dislocations in GaN.
Physica B Condensed Matter 376-37, S. 451-454.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
Engl, Karl, Beer, Martin, Gmeinwieser, Nikolaus, Schwarz, Ulrich, Zweck, Josef, Wegscheider, Werner, Miller, Stephan, Miler, A., Lugauer, H.-J., Brüderl, G., Lell, Alfred und Härle, Volker
(2006)
Influence of an in situ-deposited SiNx intermediate layer inside GaN and AlGaN layers on SiC substrates.
Journal of Crystal Growth 289 (1), S. 6-13.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
Engl, Karl, Beer, Martin, Gmeinwieser, Nikolaus, Schwarz, Ulrich, Zweck, Josef, Wegscheider, Werner, Miller, S., Miler, A., Lugauer, H., Brüderl, G., Lell, A. und Härle, V.
(2006)
Influence of an in situ-deposited SiN_x intermediate layer inside GaN and AlGaN layers on SiC substrates.
Journal of Crystal Growth 289 (1), S. 6-13.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
2005
Gmeinwieser, Nikolaus, Gottfriedsen, P., Schwarz, Ulrich, Wegscheider, Werner, Clos, R., Krtschil, A., Krost, A., Weimar, Andreas, Brüderl, G., Lell, Alfred und Härle, Volker
(2005)
Local strain and potential distribution induced by single dislocations in GaN.
Journal of Applied Physics 98 (11), S. 116102.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
Gmeinwieser, N., Gottfriedsen, P., Schwarz, Uli, Wegscheider, Werner, Clos, R., Krtschil, A., Krost, A., Weimar, A., Brüderl, G., Lell, A. und Härle, V.
(2005)
Single dislocation induced strain in GaN.
Journal of Appli
ed Physics 98, S. 116102.
Volltext nicht vorhanden.
2002
Kümmler, V., Brüderl, G., Bader, S., Miller, S., Weimar, A., Lell, A., Härle, V., Schwarz, Ulrich, Gmeinwieser, Nikolaus und Wegscheider, Werner
(2002)
Degradation Analysis of InGaN Laser Diodes.
physica status solidi a 194 (2), S. 419-422.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
Kümmler, V., Brüderl, G., Bader, S., Miller, S., Weimar, A., Lell, A., Härle, V., Schwarz, Uli, Gmeinwieser, N. und Wegscheider, Werner
(2002)
Degradation Analysis of InGaN Laser Diodes.
phys. stat. sol. (a) 194, S. 419.
Volltext nicht vorhanden.
Universitätsbibliothek
Publikationsserver
Kontakt:
Publizieren: oa@ur.de
0941 943 -4239 oder -69394
Dissertationen: dissertationen@ur.de
0941 943 -3904
Forschungsdaten: datahub@ur.de
0941 943 -5707