Einträge von Cullis, Anthony G. auf dem Publikationsserver

Wegscheider, Werner, Eberl, Karl, Abstreiter, Gerhard, Cerva, Hans und Oppolzer, H. (1991) High-Resolution Imaging of Twin Intersections in Si/Ge Superlattices on Ge(001) Substrates. In: Cullis, Anthony G., (ed.) Microscopy of semiconducting materials 1991. Conference series, 117. Institute of Physics, Bristol, S. 21. ISBN 0-85498-406-2. Volltext nicht vorhanden.